梅特勒 电子天平XS3DU

广州深华公司提供的梅特勒电子天平XS3DU质量过硬，物美价廉。

技术参数：

极限值

XS3DU 双量程

最大称量值 ：3.1 g

可读性 ：0.01 mg

最大称量值 ：0.8 g

可读性： 0.001 mg

重复性(sd) - 加载处 0.006 mg

- 低加载（加载处） 0.005 mg (0.2 g)

重复性(sd) - 加载处 0.001 mg

- 低加载（加载处） 0.0008 mg (0.2 g)

线性误差 ：0.004 mg

四角误差：（加载处）1) 0.005 mg (2 g)

典型值 4)

典型重复性（sd） 0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

典型微分非线性（sd）√2x(10-12)g·R_nt

典型微分四角误差（sd）1.2 x (10–6)•R_nt

典型灵敏度偏移（sd）2)3 x (10–6)•R_nt

典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

典型稳定时间 < 6 sec

稳定时间 < 10 sec

 

1) 根据OIML R76

2) 在10到30°C的温度范围内

3) 第一次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性

4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年

* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。1) 根据OIML R76

2) 在10到30°C的温度范围内

3) 第一次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性

4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年

* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。

产品功能及介绍：

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能，完全满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。

 

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

标准配置：

内置称量应用程序

TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置

SmartTrac彩色动态图形显示器：图形称量辅助，跟踪称量范围和公差

可设置多达10个特定功能的快捷键

可定义3个的信息，用于用户和样品标识

内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作

第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件

手动开关门的玻璃防风罩

可更换的显示屏保护盖

下挂钩称量

具有过载保护的称量传感器

显示多种质量单位

差重称量应用程序

计件和百分比称量应用程序

统计应用程序

技术指标

 

 

 

专业的深华公司提供专业的产品、专业的售前、售中、售后服务，将使您的工作能够收到事半功倍的效果。

序号	型号	技术指标	价格